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功率半导体参数测试仪3500V/1000A
普赛斯PMST功率半导体参数测试仪3500V/1000A，主要包括测试主机、测试线、测试夹具、电脑、上位机软件，以及相关通讯、测试配件等构成。整套系统采用普赛斯自主开发的测试主机，内置多种规格电压、电流、电容测量单元模块。结合专用上位机测试软件，可根据测试项目需要，设面议2025-02-27 -
半导体器件参数测试仪半导体参数分析仪
SPA-6100半导体器件参数测试仪半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统，具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试，旨在帮助加快前沿面议2025-02-27 -
半导体静态参数测试仪+功率器件测试设备
普赛斯仪表专业研究和开发半导体材料与器件测试的专业智能装备，产品覆盖半导体领域从晶圆到器件生产全产业链。推出基于高精度数字源表(SMU）的第三代半导体功率器件静态参数测试方案，为SiC和GaN器件提供可靠的测试手段，实现功率半导体器件静态参数的高精度、高效率测量和面议2025-02-27 -
低压型数字源表
数字源表现广泛用于半导体器件特性测试中，省钱省地，节约测试台空间，同时实现了大动态测试范围，集电压、电流输入输出及测量等多种功能于一体，普赛斯源表相对于进口源表，测试范围更广，价格更便宜！最大输出电压达300V，最小测试电流达100pA，支持四象限工作；SXXB系列面议2025-02-27 -
直流3A半导体分立器件测试仪
通常分立器件特性参数测试需要几台仪器完成，如数字万用表、 电压源、电流源等。然而由数台仪器组成的系统需要分别进行编程、同步、连接、测量和分析，过程既复杂又耗时，又占用过多测试台的空间；实施半导体分立器件特性参数分析的最佳工具之一是数字源表（SMU）。数字源表面议2025-02-27 -
30A+1us脉冲源
30A+1us脉冲源的简述: 作用: 主要应用于VCSEL激光器、大功率LED的测试 功能： 实现窄脉冲加电的LIV测试 特点： （1）超窄脉冲大电流电流加电，能够满足VCSEL的晶圆和芯片的测试需要； （2）支持脉冲光功率和器件脉冲电压采样功能。是LIV测试的系统解决方案； （3面议2025-02-27 -
半导体IV特性曲线分析仪
半导体IV特性曲线分析仪认准生产厂家武汉普赛斯仪表，详询一八一四零六六三四七六；普赛斯五合一高精度数字源表（SMU）可为高校科研工作者、器件测试工程师及功率模块设计工程师提供测量所需的工具，接线简单、方便操作。 利用数字源表简化半导体分立器件特性参数测试面议2025-02-27 -
半导体分立器件测试设备高电压+大电流
实施半导体分立器件特性参数分析的最佳工具之一是数字源表（SMU）。数字源表可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载，其高性能架构还允许将其用作脉冲发生器、波形发生器和自动电流-电压(I-V)特性分析系统，支持四象限工作。 利用数面议2025-02-27 -
场效应MOS管特性曲线测试国产源表
使用普赛斯S系列高精度数字源表、P系列高精度台式脉冲源表对MOSFET常见参数进行测试。 输入/输出特性测试 针对1A以下的MOSFET器件，推荐2台S系 列源表搭建测试方案，Z大电压300V，Z大电流1A, 最小电流100pA，可以满足小功率MOSFET测试的需求。 针对Z大电流为面议2025-02-27 -
三极管反向击穿电压测试SMU数字源表
三极管是半导体基本元器件之一，设计电路中常常会关注的参数有电流放大系数β、极间反向电流ICBO、ICEO、集电极最大允许电流ICM、反向击穿电压VEBO、VCBO、VCEO以及三极管的输入输出特性曲线等参数。 根据材料以及用途不同，三极管器件的电压、电流技术参数也不同，针对1A以面议2025-02-27 -
二极管反向漏电流测试国产源表
普赛斯二极管反向漏电流测试国产源表 二极管是一种使用半导体材料制作而成的单向导 电性元器件，产品结构一般为单个PN结结构，只允许电流从单一方向流过。发展至今，已陆续发展出整流二 极管、肖特基二极管、快恢复二极管、PIN二极管、光电 二极管等，具有安全可靠等面议2025-02-27 -
忆阻器IV测试脉冲恒压源CP系列
CP系列脉冲恒压源是武汉普赛斯仪表推出的窄脉宽、高精度、宽量程插卡式脉冲恒压源。设备支持窄脉冲电压输出，并同步完成输出电压及电流测量；支持多设备触发实现器件的脉冲IV扫描等；支持输出脉冲时序（如延迟、脉宽、周期等参数变量等）调节，可输出复杂曲线。主要特点有：面议2025-02-27 -
PMST-3500V大功率激光器LIV测试及老化系统
普赛斯PMST-3500V大功率激光器LIV测试及老化系统是专为解决千瓦级大功率半导体激光器芯片及泵浦激光器模块需要使用窄脉冲大电流测试和老化、芯片发热严重等问题而创新开发推出的一套通用性好、大功率、循环水冷的老化测试系统。产品具有大电流窄脉冲恒流特性好、电流稳定、面议2025-02-27 -
CTMS-1000A霍尔电流传感器测直流电流平台
CTMS-1000A霍尔电流传感器测直流电流平台集多种测量和分析功能一体，可精准测量各种电流传感器（霍尔电流传感器、罗氏线圈、皮尔森线圈等）的静态与动态参数，单台大电流源电流可高达1000A。该系统可测量不同电流传感器的静态与动态参数，具有大电流特性、极快的达到50A/us面议2025-02-27 -
射频器件频率特性测试SMU源表
GaNHEMT器件的评估一般包含直流特性(直流l-V测试)、频率特性(小信号S参数测试)、功率特性(Load-Pull测试)。 频率特性测试 射频器件的频率参数测试包含小信号S参数、互调(IMD)、噪声系数和杂散等特性的测量。其中,S参数测试描述了RF器件在不同频率下和对于信号的不同面议2025-02-27 -
16路激光器老化测试系统
16路激光器老化测试系统特点 单抽屉最多支持16路8抽屉； 各通道互相独立； 电流回读，同步自动测量电压、光功率等数据； 加热膜加热，温控范围：室温～125℃； 电源抗浪涌设计； 收光装置水冷； 绝对精度±1℃，不同DUT温度均匀性±2℃； 老化数据自动记面议2025-02-27 -
数字源表如何选型
目前市场上数字源表琳琅满目，如何选择适合自己、或性价比高的源表成为众多买家比较头疼的问题，其实只要了解到以下参数，就不难选型了： 1、源的输出范围 2、通道数 3、是否支持脉冲输出 4、测量的精度 5、测量的速度（采样率）等 确定了以上参数后，就面议2025-02-27 -
数字源表测试柔性电子材料
柔性电子又称为塑料电子、印刷电子、有机电子、聚合体电子等，将有机或者无机材料电子器件制作在柔性、可延性塑料或薄金属基板上的新兴电子技术。由于FPC柔性线路板及电子系统可实现弯曲、折叠、延展，且功能不会因此而受到影响，其独特的柔性和延展性使得柔性电子在信息、面议2025-02-27 -
数字源表测LDO芯片电性能
LDO，全称为“Low Dropout Regulator”，是一种低压差线性稳压元器件。其工作原理为，使用在其饱和区域内运行的晶体管或场效应管（FET），从应用的输入电压中减去超额的电压，产生经过调节的输出电压。相比于传统的DC-DC变换器，LDO具有成本低，噪音低，静态电流小的特点，需面议2025-02-27 -
数字源表测电阻率四探针法
电阻率是用来表示各种物质电阻特性的物理量，某种材料制成的长为1米，横截面积为1平方米的导体的电阻，在数值上等于这种材料的电阻率。它反映物质对电流阻碍作用的属性，它与物质的种类有关，还受温度、湿度等因素的影响。在实际中我们可能需要测试一些薄而平的材料的电阻率面议2025-02-27 -
高电流脉冲电源测试电流传感器响应时间
高电流脉冲电源测试电流传感器响应时间认准生产厂家武汉普赛斯仪表，详询一八一四零六六三四七六 ；高电流脉冲电源为脉冲恒流源，具有输出电流大（1000A）、脉冲边沿陡（10uS）、支持两路脉冲电压测量（峰值采样）、支持输出极性切换等特点。 设备可广泛应用于肖特面议2025-02-27 -
A400型数据采集卡
A400数据采集卡，是一款普赛斯自主设计开发的插卡式，支持可变速率采样和大容量数据存储的高精度数据采集卡。 采集卡使用高性能ADC芯片，分辨率可达16bits，最高支持2MS/s采样率。单采集卡支持4通道，且通道间隔离。采集卡可应用于我司3插卡或10插卡主机上，单主机最高支面议2025-02-27 -
大功率IGBT静态参数测试仪
大功率IGBT静态参数测试仪集多种测量和分析功能一体，可精准测量功率器件（MOSFET、BJT、IGBT等）的静态参数，电压可高达3KV,电流可高达4KA。该系统可测量不同封装类型的功率器件的静态参数，具有高电压和大电流特性，uΩ级电阻，pA级电流精准测量等特点。支持高压模式下测量面议2025-02-27 -
替代2657高压程控电源
E系列高压程控电源 特点和优势： 10ms级的上升沿和下降沿； 单台最大3000V的输出； 同步电流测量； 替代2657高压程控电源具有输出及测量电压高（3000V）、能输出及测量微弱电流信号（1nA）的特点。设备工作在第一象限，输出及测量电压0~3000V，输出及测量电面议2025-02-27 -
3000V/4000A功率器件分析仪
普赛斯3000V/4000A功率器件分析仪特点和优势： 单台Z大3000V输出； 单台Z大1000A输出，可并联后Z大4000A； 10us的超快电流上升沿； 同步测量； 国标全指标的自动化测试；详询一八一四零六六三四七六 普赛斯3000V/4000A功率器件分析仪集多种测量和分面议2025-02-27 -
国产半导体参数分析仪
国产半导体参数分析仪可测项目 集电极-发射极电压Vces，集电极-发射极击穿电压V(br)ces 集电极-发射极饱和电压Vce sat 集电极电流Ic，集电极截止电流Ices 栅极漏电流Iges，栅极-发射极阈值电压Vge(th) 栅极电阻Rg 电容测量 I-V特性曲线扫描，C-面议2025-02-27 -
国产脉冲源表IV测试忆阻器
国产脉冲源表IV测试忆阻器认准生产厂家武汉普赛斯仪表，详询一八一四零六六三四七六；P系列脉冲源表是普赛斯在直流源表的基础上新打造的一款高精度、大动态、数字触摸源表，汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能，Z大脉冲输出电流达10A，Z大输出电压达300V，支持四象限工面议2025-02-27 -
脉冲电流源LIV测试光纤激光器泵浦源
脉冲电流源LIV测试光纤激光器泵浦源认准生产厂家武汉普赛斯仪表，详询一八一四零六六三四七六 liv脉冲电流源的简述: 作用: 主要应用于激光雷达的激光器测试 功能： 实现窄脉冲加电的LIV测试 特点： （1）超窄脉冲大电流电流加电，能够满足VCSEL的晶圆和芯片的面议2025-02-27 -
多通道源表之miniled芯片LIV测试
源表有一个简单的定义，就是五表合一（电流源、电压源、电流表、电压表、电子负载），也就是源输出+测量一体化，不同品牌及不同型号的源表都符合这个要求，只是差别在于输出范围、测量精度、速度、通道数不同。 对于早期应用最为广泛的2400源表，国内早已推出对标产面议2025-02-27 -
高精度源表测试LED电性能
LED必须在合适的电流电压驱动下才能正常工作。其电压-电流之间的关系称为I-V特性。通过对LED电特性的测试，可以获得对应正向电压（Vf）、反向电压（Vr）及漏电流（Ir）等参数，以及相应的I-V曲线。常用的测试方法一般为在LED器件的两端，加电压测试电流，或者加电流测试电压面议2025-02-27 -
上升沿100A/us电流传感器测试系统
产品简介 上升沿100A/us电流传感器测试系统集多种测量和分析功能一体，可精准测量各种电流传感器（霍尔电流传感器、罗氏线圈、皮尔森线圈等）的静态与动态参数，单台大电流源电流可高达1000A。详询一八一四零六六三四七六；该系统可测量不同电流传感器的静态与动态参数，具面议2025-02-27 -
功率器件测试采集卡
A400功率器件测试采集卡，是一款普赛斯自主设计开发的插卡式，支持可变速率采样和大容量数据存储的高精度数据采集卡。详询一八一四零六六三四七六 采集卡使用高性能ADC芯片，分辨率可达16bits，最高支持2MS/s采样率。单采集卡支持4通道，且通道间隔离。采集卡可应用于我面议2025-02-27 -
半导体芯片IV性能测试仪表
半导体芯片IV性能测试仪表认准生产厂家武汉普赛斯仪表，详询一八一四零六六三四七六；普赛斯仪表S型数字源表国产自主研发，单通道，不支持脉冲输出，触摸屏操作，支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网；最大输出电压达300V，最小测试电流达100pA，支持USB存储，一键导出面议2025-02-27 -
半导体材料IV性能分析仪表
半导体材料IV性能分析仪表认准生产厂家普赛斯仪表，详询一八一四零六六三四七六；普赛斯S型数字源表国产自主研发，厂家直销！性价比高，测试范围更广，输出电压高达300V，支持USB存储，一键导出报告，符合大环境下国内技术自给的需求，可及时与客户沟通，为客户提供高性价比面议2025-02-27 -
LDO电性能测试用数字源表
LDO常用的电性能参数测试，主要包括输出电压、输入输出电压差、线性调整率、负载调整率、静态电流等。由于LDO的测试需要分别采集输入与输出端的数据，因此一般情况下，测试系统至少需要配置2台SMU，并采用上位机软件(PssSMUTools)进行控制。 普赛斯S系列高精度数字源表，面议2025-02-27 -
数字源表之光伏组件PID测试
PID测试仪器组成 测试所需主要仪器为： 步入式环境测试箱； 绝缘耐压测试仪； 接地连续性测试仪； PID测试直流电压源（数字源表）； HALM太阳模拟器（AAA+级）； EL测试仪等。 测试所需电源需求 电源电压：-1500V～0V/ 0～+1500V 电源时漂：≤0.面议2025-02-27
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