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全武汉仪器/仪表信息
共找到 152 条信息-
多人同时测试,仰卧起坐计数器,LK-D0701
可自动测试一分钟仰卧起坐的次数，可反映人体的腹部肌群力量。 测试感应杆可随受测者身高来进行前后调节，达到测试动作标准化管理。 测试感应探头采用抗干扰传感器，具有抗阳光干扰设计，提高测试准确度与灵敏度。 采用LED断码屏幕显示测试成绩，单机可以独立设置测试时间。85002025-07-11 -
半导体特性曲线仪iv+cv测试机
半导体特性曲线仪iv+cv测试机优势： IV、CV一键测；一体机，支持远程指令控制；支持三同轴接探针台 能够覆盖从材料、晶圆、器件到模块的测试；详询18140663476 典型应用： 纳米、柔性等材料特性分析； 二极管； MOSFET、BJT、晶体管、IGBT；面议2025-06-17 -
漏电流 开短路测试 电气特性测试数字源表
数字源表可作为独立的恒压源或恒流源、电压表、电流表和电子负载，支持四象限功能，可提供恒流测压及恒压测流功能,可简化芯片电性能测试方案。 在生产和老化测试时，往往要求在同一时间内完成对多个DUT的测试，或者在单个DUT上异步或者同步地运行多个测试任务。基于普赛斯C面议2025-06-17 -
P系列脉冲源表IV测试激光器芯片
PXOOB系列脉冲源表是普赛斯在直流源表的基础上新打造的一款高精度、大动态、数字触摸源表，汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能，Z大脉冲输出电流达30A，Z大输出电压达300V，支持四象限工作，因此能广泛的应用于各种电气特性测试中。PXOOB系列源表适用于各行各业使用者面议2025-06-17 -
源表搭建整流二极管的性能测试实验
源表搭建整流二极管的性能测试实验认准生产厂家武汉普赛斯仪表，详询一八一四零六六三四七六；普赛斯实验平台以工程教育专业认证为引领参与高校专业建设，以信息化引领构建学习者为中心的教育生态，培养集成电路硬件测试人才。为学生提供丰富的教学资源以及贴近现实的产业环面议2025-06-17 -
S型数字源表工作原理
数字源表作为电学测量的常用仪器，在高校和研究所的相关实验室内几乎都能看到，源表集多表合一、配上专业软件即可实现各种定制测量，使用非常广泛。 S型数字源表在一个半机架尺寸的仪器中结合了电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载等功能，这些测试功能，令数字源面议2025-06-17 -
HCPL100型高电流脉冲电源
HCPL100型高电流脉冲电源具有输出电流大（1000A）、脉冲边沿陡（10uS）、支持两路脉冲电压测量（峰值采样）、支持输出极性切换等特点。 设备可应用于肖特基二极管、整流桥堆、IGBT器件、IGBT半桥模块、IPM模块等需要高电流的测试场合，使用该设备可以独立完成“电流-导通面议2025-06-17 -
科研机构专用数字源表高精度
数字源表作为电学测量的常用仪器，在高校和研究所的相关实验室内几乎都能看到，源表集多表合一、配上专业软件即可实现各种定制测量，使用非常广泛。 S型科研机构专用数字源表高精度使用直观的触摸屏控制和图标化操作界面，令新用户通过简单操作快速获取测试结果，大大面议2025-06-17 -
替代2651国产大电流数字源表
HCP系列大电流脉冲源表是普赛斯在直流源表的基础上新打造的一款高精度、大动态、数字触摸源表，汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能，最大脉冲电流达100A，支持四象限工作，因此能广泛的应用于各种电气特性测试中。大电流源表适用于各行各业使用者，特别适合现代半导体面议2025-06-17 -
8通道数字源表测试压敏电阻
8通道数字源表测试压敏电阻认准武汉生产厂家普赛斯仪表，详询一八一四零六六三四七六 气敏电阻测试 阻值测试本质上是FIMV（加电流测电压）或FVMI（加电压测电流），获取IV曲线后计算阻值。 普赛斯源表具有丰富的电压电流量程： 电压范围0.3mV~300V，电流范围100面议2025-06-17 -
高精度台式数字源表S系列国产电流源
高精度台式数字源表S系列国产电流源优势 ◾ 性能强大-作为电压源和或电流源，并同步测量电流和或电压，支持四象限工作。可以限定电压或电流输出大小，预防器件损坏。覆盖0-3A的电流范围0-300V的电压范围，全量程测量精度0.03%。 ◾ 灵活多样-支持两线制和四线制测量，更面议2025-06-17 -
直流特性IV曲线SMU数字源表
普赛斯数字源表集电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载功能于一体，支持四象限工作、微弱电流10pA输出测量、3500V高压下nA级测量、1000A脉冲大电流输出，全系列产品丰富，新推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度数字源表，相比于传统S系列源表，准确度提升至±0.03%面议2025-06-17 -
半导体电学参数测试设备iv+cv测试机
半导体电学参数测试设备iv+cv测试机优势： IV、CV一键测；一体机，支持远程指令控制；支持三同轴接探针台 能够覆盖从材料、晶圆、器件到模块的测试;详询18140663476 SPA-6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统，具有高面议2025-06-13 -
高功率源表30A直流100A脉冲
HCP系列大电流台式脉冲源表具备直流和脉冲输出能力，最大脉冲输出电流100A，最大输出电压100V，支持四象限工作，输出及测量精度均可达0.1%，可广泛用于功率MOS测试、肖特二极管测试、整流桥堆测试及太阳能电池模组测试等。详询一八一四零六六三四七六 应用 •纳米材料面议2025-06-13 -
功率mos管电性能分析IV测试大电流源表
P系列功率mos管电性能分析IV测试大电流源表是普赛斯在直流源表的基础上新打造的一款高精度、大动态、数字触摸源表，汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能，Z大脉冲输出电流达10A，Z大输出电压达300V，支持四象限工作，因此能广泛的应用于各种电气特性测试中。P系列源表适面议2025-06-13 -
基于数字源表的高校微电子教学实验平台
基于数字源表的高校微电子教学实验平台特色： 1、外观简洁紧凑集成度高 2、通用开放型仪表平台 以数字源表(SMU)为核心，覆盖所有材料器件的直流特性测试；示波器、信号源、数字电桥等通用仪表完成动态参数测试实验。 3、模块化设计实验夹具盒 4、引入集面议2025-06-13 -
数字源表助力工程师提取半导体器件IV电性能参数
半导体分立器件是组成集成电路的基础，包含大量的双端口或三端口器件，如二极管，晶体管，场效应管等。 直流 I-V 测试则是表征微电子器件、工艺及材料特性的基石。通常使用 I-V 特性分析，或 I-V 曲线，来决定器件的基本参数。微电子器件种类繁多，引脚数量和待测参数各不相面议2025-06-13 -
高精度源表IV测试忆阻器直流特性
忆阻器基础性能研究测试 忆阻器件的评估,一般包括直流特性、脉冲特性与交流特性测试,分析器件在相应的直流、脉冲与交流作用下的忆阻特性,以及针对忆阻器件的保持力、稳定性等非电学特性进行测量。 直流l-V特性测试 不同极性、不同大小的电压(电流)激励会面议2025-06-13 -
大电流脉冲源表
P系列功率mos管I-V电性能测试大电流脉冲源表是普赛斯在直流源表的基础上新打造的一款高精度、大动态、数字触摸源表，汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能，Z大脉冲输出电流达10A，Z大输出电压达300V，支持四象限工作，因此能广泛的应用于各种电气特性测试中。P系列源表面议2025-06-13 -
汽车电流传感器标定测试设备
汽车电流传感器标定测试设备简介 电流传感器测试系统集多种测量和分析功能一体，可精准测量各种电流传感器（霍尔电流传感器、罗氏线圈、皮尔森线圈等）的静态与动态参数，单台大电流源电流可高达1000A。该系统可测量不同电流传感器的静态与动态参数，具有大电流特性、极面议2025-06-13 -
MEMS气体传感器测试系统
通常，气体传感器 I-V 特性测试需要几台仪器完成，如数字表、电压源、电流源等。然而，由数台仪器组成的系统需要分别进行编程、同步、连接、测量和分析，过程既复杂又耗时，还占用过多测试台的空间。而且，使用单一功能的测试仪器和激励源还存在复杂的相互间触发操作，有更面议2025-06-13 -
半导体电学特性测试系统CV+IV测试仪
SPA-6100半导体电学特性测试系统CV+IV测试仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统，具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试，旨在帮助加快前沿材料面议2025-06-13 -
宽量程30μV-1200V,1pA-100A半导体参数分析仪
宽量程30μV-1200V,1pA-100A半导体参数分析仪特点： 30μV-1200V,1pA-100A宽量程测试能力； 测量精度高,全量程下可达0.03%精度； 内置标准器件测试程序，直接调用测试简便； 自动实时参数提取，数据绘图、分析函数； 在CV和IV测量之间快速切换而无需重面议2025-06-13 -
半导体特性测试仪IV曲线扫描仪
半导体特性测试仪IV曲线扫描仪认准普赛斯仪表，普赛斯仪表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度数字源表，相比于传统S系列源表，准确度提升至±0.03%，直流电流升级至3A，可为半导体行业提供更加精准、稳定的测试方案；详询一八一四零六六三四七六； S型数字源表应用面议2025-06-13 -
功率器件CV测试系统+CV测试仪
系统方案 普赛斯功率器件CV测试系统+CV测试仪主要由源表、LCR表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz，源表(SMU)负责提供可调直流电压偏置，通过矩阵开关加载在待测件上。 进行 C-V 测量时，通常在电容两端施加直流偏压，同时利用一面议2025-04-08 -
半导体参数CV测试仪
半导体参数CV测试仪优势 频率范围宽：频率范围10Hz~1MHz连续频率点可调； 高精度、大动态范围：提供0V~3500V偏压范围，精度0.1%； 内置CV测试：内置自动化CV测试软件，包含C-V（电容-电压），C-T（电容-时间），C-F（电容-频率）等多项测试测试功能; 兼容IV测试：同时面议2025-04-08 -
霍尔延时响应测试系统电流传感器测试设备
产品简介 霍尔延时响应测试系统电流传感器测试设备集多种测量和分析功能一体，可精准测量各种电流传感器（霍尔电流传感器、罗氏线圈、皮尔森线圈等）的静态与动态参数，单台大电流源电流可高达1000A。该系统可测量不同电流传感器的静态与动态参数，具有大电流特性、极快面议2025-04-08 -
LIV光电特性测试脉冲恒流源
LIV光电特性测试脉冲恒流源认准普赛斯仪表，厂家直销，服务完善，详询一八一四零六六三四七六；PL系列脉冲电流源是针对大功率激光器LIV测试而研制的，触摸显示屏全图形化操作，高灵敏度宽带光功率检测，内置LIV测试软件加速用户完成测试，具有输出电流脉冲窄、输出脉冲电流面议2025-04-08 -
大功率igbt模块测试设备功率器件静态参数测试仪
普赛斯大功率igbt模块测试设备功率器件静态参数测试仪，集多种测量和分析功能一体，可以精准测量不同封装类型功率器件（如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代半导体等）的静态参数，具有高电压和大电流特性、μΩ级J确测量、nA级电流测量能力等特点。支持高压模式下测量功率面议2025-04-08 -
半导体参数测试仪CV+IV曲线扫描仪
SPA-6100半导体参数测试仪CV+IV曲线扫描仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统，具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试，旨在帮助加快前沿材料研面议2025-04-08 -
半导体特性曲线测试仪IV曲线扫描仪
普赛斯数字源表集电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载功能于一体，支持四象限工作、微弱电流10pA输出测量、3500V高压下nA级测量、1000A脉冲大电流输出，全系列产品丰富，新推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度数字源表，相比于传统S系列源表，准确度提升至±0.03%面议2025-04-08 -
半导体分立器件静态测试设备
普赛斯半导体分立器件测试设备,集多种测量和分析功能一体,可以精准测量IGBT功率半导体器件的静态参数,具有高电压和大电流特性、uQ级精确测量、nA级电流测量能力等特点。支持高压模式下测量功率器件结电容,如输入电容、输出电容、反向传输电容等。详询一八一四零六六三四七六面议2025-04-08 -
功率器件功能高压测试模块
E系列功率器件功能高压测试模块特点和优势： 十ms级的上升沿和下降沿； 单台最大3500V的输出； 0.1%测试精度； 同步电流或电压测量； 支持程控恒压测流，恒流测压，便于扫描测试；详询一八一四零六六三四七六； 部分参数 最大输出功率：350W，3500V面议2025-04-08 -
国产半导体参数分析仪1200V/100A
SPA-6100国产半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统，具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试；SPA-6100半导体参数分析仪可以帮助面议2025-04-08 -
大电流电源3000A电流源
普赛斯仪表专业研究和开发半导体材料与器件测试的专业智能装备，产品覆盖半导体领域从晶圆到器件生产全产业链。推出基于高精度数字源表(SMU）的第三代半导体功率器件静态参数测试方案，为SiC和GaN器件提供可靠的测试手段，实现功率半导体器件静态参数的高精度、高效率测量和面议2025-04-08 -
E系列功率器件功能高压测试模块
武汉普赛斯仪表有限公司，是一家专注于半导体的电性能测试仪表的开发、生产与销售的研发型高新技术企业。公司以源表为核心产品，专注于第三代半导体测试，提供从材料、晶圆、器件的全系列解决方案。 未来，普赛斯仪表基于国产化高精度数字源表（SMU）的测试方案，以更优面议2025-04-08
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