分立器件测试仪：半导体分立器件测试仪的介绍

一、分立器件测试仪特色：

测试品种涵盖范围广，测试精度高，电气参数测试全面，速度快，可重复性和一致性好，工作稳定可靠，具有保护受试系统和设备的能力。所测试设备可以图形方式显示，系统软件功能齐全、灵活易用、操作简单。系统软件稳定可靠，硬件故障率低，实际测试应用的所有技术指标均能达到设备手册的技术指标和国家标准的要求。

二、分立器件测试仪测试参数
1． 二极管     
VF、IR、BVR
2．  稳压（齐纳）二极管  
VF、IR、BV Z
3．  晶体管       Transistor（NPN型/PNP型）
      VBE、ICBO、 LCEO、IEBO、BVCEO、BVCBO、BVEBO、hFE、VCESAT、VBESAT 、VBEON
4．   可控硅整流器（晶闸管）  
IGT、VGT、 IH、IL 、VTM
5．  场效应管  
IGESF、IGSSF、 IGSSR、IGSS、VDSON、RDSON、VGSTH、IDSS、IDON 、gFS、 BVDGO、BVGSS
6．  光电耦合器      
VF 、IR、CTR、ICEO、BVCEO、VCESAT
7．三端稳压器
VO、SV、ID、IDV

陕西开尔文测控技术有限公司主营：电压耐量测试设备、碳化硅器件测试仪、分立器件测试仪、分立器件综合参数测试仪、半导体分立器件测试系统、特大功率IGBT测试系统、浪涌测试仪、分立器件静态参数测试系统、分立器件动态参数测试系统、分立器件动态参数测试仪、IGBT静态参数测试系统。以产品性价比高、可测器件种类多且参数齐全、测试精度高、速度快、保护性强、故障率低、软件丰富、操作使用方便、售后服务及时周到。同时还承担着同类进口产品的售后维修服务。