木工对刀仪分析元件X射线荧光光谱测量条件

  木工对刀仪分析元件X射线荧光光谱测量条件1 224.png2.X注:PHA为脉冲高度分析仪，准直器为S4。图1通过样品旋转与否测量的荧光光谱的比较224。PNG 2。X射线显微分析的干涉校正和技术指标2.1谱线干涉和矩阵校正分析软件提供矩阵校正和谱线重叠校正公式。数学模型为:其中:Wi -标准样品中分析元素I的推荐值或未知样品中分析元素I的校正含量；

  原子会吸收这个特征波长的光，外层电子从基态跃迁到相应的激发态，产生原子吸收光谱。电子跃迁到更高能级后处于激发态，但激发态电子不稳定。大约10-8秒后，激发态电子会回到基态或其他更低的能级，跃迁过程当中吸收的能量会以光的形式释放出来。这个过程被称为原子发射光谱。可见原子吸收光谱吸收辐射能，原子发射光谱释放辐射能。

  木工对刀仪因此，一个原子核可以有多个能级。能量低的能级称为基态能级(E0=0)，其他能级称为激发态能级，能量低的激发态称为第一激发态。正常情况下，原子处于基态，核外电子在自己的轨道上低能运动。如果给基态原子提供一定的外部能量如光能，当外部光能E正好等于基态和基态原子中较高能级之间的能级差E时，